Скачать ГОСТ 8.592-2009 ГСИ. Меры рельефные нанометрического диапазона из монокристаллического кремния. Требования к геометрическим формам, линейным размерам и выбору материала для изготовления

Дата актуализации: 17.06.2011

ГОСТ 8.592-2009

ГСИ. Меры рельефные нанометрического диапазона из монокристаллического кремния. Требования к геометрическим формам, линейным размерам и выбору материала для изготовления

Статус:действующий (Введен впервые)
Обозначение:ГОСТ 8.592-2009
Название рус.:ГСИ. Меры рельефные нанометрического диапазона из монокристаллического кремния. Требования к геометрическим формам, линейным размерам и выбору материала для изготовления
Дата актуализации текста:17.06.2011
Дата добавления в базу:17.06.2011
Дата введения:01.11.2010
Разработан в:ОАО "Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума"
МФТИ (ГУ)
ФГУ "Российский научный центр "Курчатовский институт"
Утверждён в:Ростехрегулирование (05.04.2010)
Опубликован в:Стандартинформ № 2010
Область и условия применения:Настоящий стандарт устанавливает требования к геометрическим формам и линейным размерам, а также к выбору материала для изготовления рельефных мер нанометрового диапазона из монокристаллического кремния для диапазона линейных измерений от 10-9 до 10-6 м.
Настоящий стандарт распространяется на рельефные меры, предназначенные для проведения всех видов поверок растровых электронных микроскопов по ГОСТ 8.594 и сканирующих зондовых атомно-силовых микроскопов по ГОСТ 8.593 при проведении метрологического контроля (надзора), а также на рельефные меры, используемые при калибровке указанных типов микроскопов.
Оглавление:1 Область применения
2 Нормативные ссылки
3 Термины и определения
4 Геометрические формы и линейные размеры элементов рельефа
5 Требования к материалу для изготовления рельефной меры
Приложение А (справочное) Технологический процесс изготовления рельефной меры с использованием анизотропного травления
Библиография
Ключевые слова:размеры длина материал рельефные меры нанометрового диапазона растровые электронные микроскопы монокристаллический кремний формы зондовые сканирующие атомно-силовые микроскопы
Скачать ГОСТ 8.592-2009